Ausschreibungen Empa zentraler Einkauf

A complete, turn-key hyperspectral photoluminescence (PL) imaging system for the spatially and spectrally resolved optical characterization of photovoltaic materials and semiconductor devices. The system acquires hyperspectral data-cubes in full-field imaging mode without point-by-point spatial raster scanning of the sample or excitation beam. The system must operate across the visible to near-infrared spectral range and support quantitative absolute photometric measurements.

A complete, turn-key hyperspectral photoluminescence (PL) imaging system for the spatially and spectrally resolved optical characterization of photovoltaic materials and semiconductor devices. The system acquires hyperspectral data-cubes in full-field imaging mode without point-by-point spatial raster scanning of the sample or excitation beam. The system must operate across the visible to near-infrared spectral range and support quantitative absolute photometric measurements. 

Die Ausschreibung umfasst die Dienstleistungen für die Reinigung und Grünpflege auf dem Campus Dübendorf und wird in zwei Lose ausgeschrieben. Mit der Ausschreibung soll ein Reinigungsdienstleister für die Gebäude und ein Dienstleister für die Grünpflege des Campus in Dübendorf evaluiert werden. Interessierte Anbieter können für beide Lose oder auch nur für ein Los Angebote einreichen. Ein Anbieter könnte beide Lose gewinnen. Es ist pro Los ein separates Angebot abzugeben, welches in keiner Abhängigkeit zum anderen Los steht. Für beide Lose ist ein Vertragsstart am 01.04.2025 geplant.

Empa’s Laboratory Materials for Energy Conversion plans to acquire a robust, easy-to-use X-ray photoelectron spectrometer (XPS) with compact dimensions as a multi-user tool with low maintenance requirements, and low operating costs.

One 600 MHz ssNMR spectrometer Associated highly sensitive CP-MAS ssNMR probes with cryogenically cooled electronics dedicated for NMR experiments with tunable frequency (desired range will be disclosed on request) on 1st channel and tunable to 1H NMR frequency on the 2nd channel. The supplier must provide proof that a device largely corresponding to the NMR system described above has already been installed at a customer's premises (for consultation purposes, contact details of the customer or literature references of publicly published data must be provided). No partial offers of the goods above listed will be accepted.

Empa’s Center for X-ray Analytics plans to acquire a versatile, high-resolution micro-CT scanner covering a broad range of applications, mostly focusing on soft materials, as a multi-user tool with low maintenance requirements, and low operating costs.

Das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop (CLSM) wird regelmässig in einer Vielzahl von laufenden Forschungsprojekten eingesetzt. In der fortgeschrittenen In-vitro-Modellforschung wird es zur Charakterisierung von zweidimensionalen und dreidimensionalen In-vitro-Zellkulturmodellen und Ex-vivo-Kulturen eingesetzt. Es ermöglicht uns, die Zelldifferenzierung, das Zellschicksal, die Zellfusion und die Bildung biologischer Barrieren in den In-vitro-Modellen zu verstehen. In der Nanomedizin und der Nanosicherheitsforschung wird die CLSM eingesetzt, um den intrazellulären Transport und die Ko-Lokalisierung von fluoreszierenden Nanopartikeln in zellulären und subzellulären Kompartimenten (d. h. Mitochondrien, Lysosomen und Zellkern) zu untersuchen. Es wird auch für die Charakterisierung zellulärer Strukturen (z. B. Zytoskelett, Vesikel, Zellkerne, Membranen und intrazelluläre Proteine) nach der Behandlung mit Nanomedikamenten und fortschrittlichen Materialien verwendet, die zum Verständnis zellulärer Reaktionen und Mechanismen beitragen. Das CLSM wird auch verwendet, um verschiedene Arten von implantierbaren Materialien abzubilden, um die Wechselwirkung zwischen verschiedenen Oberflächen/Oberflächenmodifikationen und Zell-/Gewebereaktionen zu untersuchen. Der Reflexionsmodus, bei dem einfallendes Laserlicht an Oberflächen reflektiert wird, ermöglicht die kombinierte Visualisierung der Oberflächentopografie auf metallischen Implantaten und beispielsweise des Zellzytoskeletts, der Zellkerne oder der Membranproteine. Die Bewertung der Zellmigration oder -infiltration in 3D-Hydrogelen wird ebenfalls mit Hilfe der Zeitraffer-Mikroskopie durchgeführt. Darüber hinaus ist das CLSM Teil unserer Aktivitäten im Bereich der korrelativen Bildgebung in Verbindung mit anderen hochauflösenden Techniken wie der Raster- oder Transmissionselektronenmikroskopie und der Raman-Mikrospektroskopie.

The two instruments shall warrant a smooth workflow for TEM sample preparation by FIB and state-of-the-art sample characterization by analytical, high-resolution TEM/STEM, particularly, but not exclusively. A broad spectrum of materials science samples shall be addressed, including highly fragile and beam-sensitive samples such as, e.g., Li-based thin-film battery materials, carbon-based nanomaterials or zeolites for catalytic applications. Energy dispersive X-ray (EDX) analytics is required on both instruments, special acquisition modes in STEM are desirable, namely 4D-STEM in combination with the TEM camera, and a segmented detector for differential phase contrast STEM. Besides TEM sample preparation, the FIB instrument shall be employed for 3D imaging by consecutively ion-beam milling and imaging. To warrant smooth and efficient operation of these multi-user instruments, an important aspect lies on automatic or semi-automatic routines, particularly concerning materials processing by FIB.

Als Ersatz für eine bestehende CNC-Drehmaschine soll eine CNC Drehmaschine mit Gegenspindel, angetriebenen Werkzeugen und einer Y-Achse beschafft werden.

The subject of this tender is a low-temperature (<3K), ultrahigh vacuum (UHV) scanning probe microscopy system with optical access to the scanned sample to pinpoint device structures in the sub-micrometer range to be investigated on the atomic level. The system provides state-of-the-art scanning tunneling microscopy (STM), spectroscopy (STS) and tuning fork based noncontact atomic force microscopy (nc-AFM), including UHV preparation chamber and load lock.