Wir schreiben ein Rasterelektronenmikroskop mit hoher Auflösung und verschiedenen Abbildungsoptionen aus. Das System muss computergesteuert sein, und es muss Software für die Bildgebung und die Messung der Abmessungen bereitgestellt werden. Das System sollte in der Lage sein, dielektrische Proben im Niedrigvakuummodus abzubilden, um Aufladungseffekte zu vermeiden. Alle Installationskomponenten, wie Schläuche, Kabel, Pumpen, Kühler, Computer usw. müssen enthalten sein.
Die detaillierte Leistungsbeschreibung entnehmen Sie bitte dem anliegenden Kriterienkatalog in den Vergabeunterlagen.
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