Ausschreibungen Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V.

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt ein interferometrisch überwachtes Thulium-Hochleistungslasersystem für feldaufgelöste Infrarot-Spektroskopie aus. Dieses soll aus einem Doppeloszillator im Erbium-Band, einer nichtlinearen Frequenzverschiebung ins Thulium-Band, und einem zweikanaligen Thulium-Verstärkersystem bestehen. Es wird ein kompaktes System erwartet, welches über eine schlüsselfertige Bedienung (Turnkey-System), sowie ein Interlock-Sicherheitssystem verfügt.

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e. V. Jena schreibt ein Infrarot-Mikrospektrometer im mittleren Infrarotbereich (mid-IR) mit Quanten-Kaskaden-Lasern (QCL) als Anregungsstrahlungsquellen aus. Das System soll insbesondere für den Einsatz in der IR-Biospektroskopie spezifiziert sein. — Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30 %.

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e. V. schreibt ein automatisch arbeitendes optisches Messsystem zur Defektinspektion von mikrolithographisch hergestellten Strukturen auf Wafer bis 150 mm Durchmesser aus. Das Gerät soll in der Lage sein, vollautomatisch Strukturdefekte >=1,5 μm innerhalb dieser Chips zu erkennen, zu dokumentieren und in einer geeigneten Wafermap grafisch darzustellen als auch digital abzuspeichern, um sie an einen vorhandenen Waferprober zur elektrischen Charakterisierung weitergeben zu können (KLA-Format). Der Vorgang, einen 150 mm Wafer einseitig vollständig zu inspizieren und auszuwerten, sollte aus prozesstechnischen Gründen nicht länger als 15 min dauern. Da die Substrate sowohl von der Vorder- als auch von der Rückseite inspiziert werden müssen, ist es wichtig, am Ende eine überlagerte Wafermap beider Seiten mit Darstellung der Defekte vorliegen zu haben. Die zu inspizierenden Substrate können dabei vollflächig als auch in Chipform (DIEs) vereinzelt vorliegen. Bei den zu verarbeitenden Substraten handelt es sich um Waferformate mit einem Durchmesser von 100 mm und 150 mm. Zur sicheren Halterung dieser Waferformate während der Inspektion ist eine geeignete Randansaugung mit Freistellung der restlichen Waferfläche vorzusehen. Im vereinzelten Zustand liegen die Chips dann auf „Blue Tape“ vor und werden in diesem Zustand sowohl mit „MicroFrames“ als auch „MicroSnap“ gehandelt. Hierbei ist eine vollflächige Ansaugung während der Inspektion möglich. Das System sollte somit auf unterschiedliche Wafer- und Chiptypen, sowie Struktur-Designs adaptierbar sein. Die Bedienung sollte einfach und von Laboranten durchführbar sein. — Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30 %.

Das Leibniz-IPHT erforscht aktiv optisch gepumpte Magnetometer (OPM), eine Klasse von Sensoren mit einer auf dem derzeitigen Stand der Technik besten erzielbaren Magnetfeldauflösung, nur unterboten von kryogenen supraleitenden Detektoren. Solche OPM sind hochinteressant für Anwendungen in der (Bio-)Medizin, in den Geowissenschaften und z. B. auch der Materialprüfung. Die Aussagekraft dieser Magnetfeldmessungen kann enorm gesteigert werden, wenn die Aufnahme von lateralen Magnetfeldverteilungen gelingt. Dies erfordert die Messung mit vielen Magnetfeldsensoren, die idealerweise eng benachbart platziert werden können und die in ihren Eigenschaften möglichst ähnlich sind. Das Leibniz-IPHT erforscht und etabiliert Technologien zur räumlich aufgelösten Aufnahme von Magnetfeldverteilungungen auf verschiedenen Größenskalen mit Hilfe von OPM. Dabei ist es essentiell die Messsignale der einzelnen Sensorkanäle möglichst rauscharm und mit für die Signale ausreichender Bandbreite auszulesen. Dafür werden zwei vielkanalige Systeme zur schnellen Datenaufnahme mit sehr hoher Auflösung benötigt. Durch die Nutzung von PXI-Systemen, welche industrieweit die höchste Bandbreite liefern und als offener Industriestandard gelten, wird die schnelle Umsetzung in ein Funktionsmuster gegeben. — Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30 %.

Die Ausschreibung „08.20.O.02 / Los 2 – 592 nm gepulster STED-Laser“ stellt Los 2 von 4 Ausschreibungen des Forschungsprojektes „Next-Generation super-auflösende optische STED-Mikroskopie von zellulären Dynamiken (Advanced-STED)“ dar. Ursprünglich waren im Rahmen dieses Projektes 3 Ausschreibungen geplant. Während des Projektverlaufes wurde aber ersichtlich, dass die zusätzliche Anschaffung des STED-Lasers zur Erreichung des Projektziels erforderlich ist. Daher wurde eine kostenneutrale Umwidmung vorgenommen, weshalb nun 4 Ausschreibungen erfolgen. Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e. V. Jena schreibt im Rahmen des Projektes „Advanced- STED: Next- Generation super-auflösende optische STED- Mikroskopie von zellulären Dynamiken“ einen gepulsten STED-Laser bei 592 nm aus. In diesem Projekt werden endoskopische STED-Mikroskopie-Aufnahmen durch eine Faser realisiert, die Aufnahmen tief im Gewebe ermöglichen. — Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30 %

Die Ausschreibung „08.20.O.03 / Los 3 – Hybrid-Detektor“ stellt Los 3 von 4 Ausschreibungen des Forschungsprojektes „Next-Generation super-auflösende optische STED-Mikroskopie von zellulären Dynamiken (Advanced-STED)“ dar. Ursprünglich waren im Rahmen dieses Projektes 3 Ausschreibungen geplant. Während des Projektverlaufes wurde aber ersichtlich, dass die zusätzliche Anschaffung eines STED-Lasers zur Erreichung des Projektziels erforderlich ist. Daher wurde eine kostenneutrale Umwidmung vorgenommen, weshalb nun 4 Ausschreibungen erfolgen. Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt im Rahmen des Projektes „Advanced- STED: Next- Generation super-auflösende optische STED- Mikroskopie von zellulären Dynamiken“ einen Hybrid-Detektor und Detektionselektronik aus. In diesem Projekt werden endoskopische STED-Mikroskopie-Aufnahmen über eine Faser realisiert, die Aufnahmen tief im Gewebe ermöglichen. Benötigt wird ein Hybrid-Detektor zur Erfassung vom Fluoreszenzsignalen im Bereich von 300 bis 700 nm zusammen mit einem Time-Correlated Single Photon Counting (TCSPC) System. — Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30 %.

Das Leibniz - Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt eine softwaregesteuerte optische Komponente aus, die in Kombination mit einem 3D-Druck-System der Firma Nanoscribe "Photonic Professional GT2" die Realisierung von mikro- und mesoskaligen Objekten ermöglicht. Die softwaregesteuerte optische Komponente unterstützt den Druck von mikrooptischen Komponenten und soll daher in der Lage sein, Objekte mit optischer Qualität und Transparenz sowie hoher Formgenauigkeit zu drucken. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt für die zerstörungsfreie Messung und Analyse der optischen Eigenschaften von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen im IR-Spektralbereich ein FTIR-Spektralellipsometer aus. Das anzuschaffende FTIR-Spektralellipsometer soll zur Bestimmung der komplexen Dielektrizitätsfunktion bzw. des komplexen Brechungsindex im Spektralbereich von 2 µm bis 30 µm der Einzelschichten von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen bestehend aus Materialien wie Dielektrika, Halbleiter, Polymere, Biofilme und Metalle eingesetzt werden. Die Modellierungs-Software des Gerätes soll die Entwicklung parametrischer Modelle von neuen, auch anisotropen Materialien, z.B. von IR-Breitbandabsorbern, von IR-Metamaterialien und von IR-Gradientenschichten, ermöglichen, ohne dass die Daten außerhalb des Meßbereichs mit einer Kramers-Kronig-Analyse extrapoliert werden müssen. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy), Raman-Spektroskopie und plasmonischer Aktivität geeignet sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene zu untersuchen, und zwar mit nanoskaliger Auflösung und molekularer Spezifität. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem Raman-Spektrometer und einem Mikroskop (ausgestattet mit einem Rastermikroskopie-Tisch) bestehen. Das System muss auch Möglichkeiten für seitliche und untere Beleuchtungsgeometrien beinhalten, um die Untersuchung von transparenten und opaken Proben zu ermöglichen. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt die Erforschung und Entwicklung von kompakten Laserquellen für klinische Anwendungen der multimodalen nichtlinearen Mikroskopie aus. Die Forschungsarbeiten und Entwicklungen umfassen (1) ein kompaktes, robustes, luftgekühltes und fasergekoppeltes Faserlasersystem für die multimodale nichtlineare Mikroskopie und Endoskopie, (2) die Erforschung und Entwicklung eines flexiblen, leistungsstarken, sehr schnell spektral durchstimmbaren und extrem rauscharmen Lasersystems für die hyperspektrale stimulierte Raman-Streuungs-Mikroskopie sowie (3) eine Kurzpuls-Laserquelle im NIR-II-Fenster von 1500-2000 nm für die Erzeugung der 3. Harmonischen, 3-Photonenangeregten-Fluoreszenz und weitere Bildgebungsmethoden höherer Ordnung. Weiterhin umfassen die Arbeiten die Entwicklung einer für alle 3 Systeme einheitliche Softwareschnittstelle zur Integration der Laserquellen in Laserscanning-Mikroskope und Endoskope für vollautomatisierte Messungen. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 50 %, Preis 50%