Frist abgelaufen

Kauf, Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

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Auftraggeber

Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e.V.

Wichtige Fristen

Frist abgelaufen
Angebotsfrist
22. Oktober 2025
Veröffentlichungsdatum
22. September 2025

Beschreibung

Gesucht wird für anwendungsorientierte wissenschaftliche Grundlagenforschung ein System zur hochauflösenden Bildgebung von molekularen Systemen auf Oberflächen. Dieses grundlegende AFM-System soll die Möglichkeit bieten, das vorhandene System für zukünftige rastertunnelmikroskopische Experimente (STM), u.a. durch eine elektrochemische Zelle, aufzurüsten. Das Hauptziel besteht darin, hochauflösende AFM-Experimente zu ermöglichen und gleichzeitig eine umfassende Reihe von STM-Funktionen und elektrischen Charakterisierungen hinzuzufügen. Zusätzliche oder ergänzende Messmethoden werden demnach in dem Angebot entsprechend bewertet (weitere Details siehe 2. Leistungsbeschreibung). Neben dem Messsystem sollten der Computer zur Ansteuerung inklusive voll entwickelter Software, Training sowie Installation Bestandteil dieser Ausschreibung sein.

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