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200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Veröffentlicht
25.06.2026
Angebotsfrist
24.07.2026
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Zeitplan
Veröffentlichung 25.06.26 | Fragenfrist 16.07.26 | Abgabefrist 24.07.26 |
Ausschreibung
Reichweite
EU-weit
Vergabeart
Offenes Verfahren
Erfüllungsort
Frankfurt (Oder), Deutschland
KMU geeignet
Ja
E-Mail
vergabestelle@ihp-microelectronics.com
Telefon
+49 3355625358
Website
https://www.ihp-microelectronics.com/
Eignungs- & Bewertungskriterien
2 EignungskriterienEignungskriterien
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