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300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Veröffentlicht
16.06.2026
Angebotsfrist
16.07.2026
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Zeitplan
Veröffentlichung 16.06.26 | Fragenfrist 07.07.26 | Abgabefrist 16.07.26 |
Ausschreibung
Reichweite
EU-weit
Vergabeart
Offenes Verfahren
Erfüllungsort
Frankfurt (Oder), Deutschland
KMU geeignet
Ja
E-Mail
vergabestelle@ihp-microelectronics.com
FreischaltenTelefon
+49 3355625358
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4 EignungskriterienEignungskriterien
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