Gerät für die Spitzen-verstärkte-Raman-Spektroskopie (TERS-Setup)

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy), Raman-Spektroskopie und plasmonischer Aktivität geeignet sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene zu untersuchen, und zwar mit nanoskaliger Auflösung und molekularer Spezifität. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem Raman-Spektrometer und einem Mikroskop (ausgestattet mit einem Rastermikroskopie-Tisch) bestehen. Das System muss auch Möglichkeiten für seitliche und untere Beleuchtungsgeometrien beinhalten, um die Untersuchung von transparenten und opaken Proben zu ermöglichen. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%