Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien
Zuschlag erteilt am 22. Juli 2025
- DE_Portmann Instruments AG, Biel-Benken BL · 430.779 €
Veröffentlicht
22.07.2025
Bekanntmachungsart
Zuschlagsbekanntmachung
Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse.
Details siehe Pflichtenheft.
Zeitplan
Vertragsbeginn 01.05.25 | Veröffentlichung 22.07.25 |
Ausschreibung
Reichweite
EU-weit
Vergabeart
Offenes Verfahren
Erfüllungsort
Zürich, Deutschland
E-Mail
publictender@ethz.ch
Telefon
+41446321111
Website
https://www.ethz.ch
Eignungs- & Bewertungskriterien
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Vertragsentwurf287 KB24 Seiten
Kalkulation124 KB2 Tabellen
Projektplan56 KB8 Seiten
Vertragsbedingungen24 KB16 Seiten
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