Frist abgelaufen

Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

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Auftraggeber

ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services

Wichtige Fristen

Frist abgelaufen
Angebotsfrist
17. März 2025
Veröffentlichungsdatum
06. Februar 2025

Beschreibung

Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse. Details siehe Pflichtenheft.

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